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JIMTOF 2012 第26回日本国際工作機械見本市に出展のご案内

2012.10.12

期間:2012年11月1日(木)~6日(火)

東京ビッグサイトにて行われる「JIMTOF 2012 第26回日本国際工作機械見本市」にレーザプローブを用いた非接触輪郭形状測定機とスキャンAF機能を搭載した非接触表面性状測定装置を出展致します。

開場期間:9時から17時
入場料:当日3,000円/前売1,000円(税込)* 学生:無料(登録が必要)
場 所:東京ビッグサイト

小間番号:W4060 (西4ホール)* 大阪精密機械株式会社殿と共同出展
出展品目:非接触輪郭形状測定機 MLP-2
微細な工具、精密歯車や様々な部品の内外径の輪郭形状を非破壊にて測定

小間番号:W4094(株式会社菱光社殿にて)
出展品目:非接触表面性状測定装置 PF-60
インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機能を搭載

カテゴリー: 展示会のニュース

タグ: 産業機器