JIMTOF 2014 第27回日本国際工作機械見本市に出展のご案内

2014
09.25
展示会
# 測定機器

東京ビッグサイトにて行われる「JIMTOF 2014 第27回日本国際工作機械見本市」にレーザプローブを用いた非接触輪郭形状測定機とスキャンAF機能を搭載した非接触表面性状測定装置を出展致します。


開場期間:9時から17時
入場料:当日3,000円/前売1,000円(税込)* 学生、招待券持参者:無料(登録が必要)

    (招待券が必要な場合は弊社までお問い合わせください)
場 所:東京ビッグサイト

小間番号:W3047 (西3ホール)

出展品目:
超精密非接触全周三次元測定装置 MLP-2SP
微細な工具、精密歯車や様々な部品の内外径の輪郭形状を非破壊にて測定

非接触表面性状測定装置 PF-60
インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機能を搭載

非接触三次元測定の最高峰 NH-3SP

ウエハの反り測定、ICパターンの形状および寸法測定に最適