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第20回 機械要素技術展 M-Tech に出展のご案内

2016.05.02

期間:2016年6月22日(水)~24日(金)

東京ビックサイトにて行われる「第20回 機械要素技術展 M-Tech」にスキャンAF機能を搭載した非接触表面性状測定装置、レーザプローブを用いた非接触三次元測定装置等を出展致します。

 

期     間:2016年6月22日(水)~6月24日(金)

開場期間:10時から18時 ( 24日 [金]は17時まで )

入 場 料:無料(事前申請が必要となります)

場     所:東京ビックサイト 西4ホール

小間番号:西8-49

 

出展品目:

非接触表面性状測定装置 PF-60

インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機能を搭載

超精密非接触全周三次元測定装置 MLP-3SP

微細な工具、精密歯車や様々な部品の内外径の輪郭形状を非破壊にて測定

非接触三次元測定の最高峰 NH-3SPs

ウエハの反り測定、ICパターンの形状および寸法測定に最適

カテゴリー: 展示会のニュース

タグ: 産業機器