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第23回マイクロマシン/MEMS展に出展のご案内

2012.06.26

期間:2012年7月11日(水)~13日(金)

東京ビックサイト(東2ホール)にて行われる「第23回マイクロマシン展/MEMS展」にスキャンAF機能を搭載した非接触表面性状測定装置、レーザプローブを用いた非接触三次元測定装置等を出展致します。

開場期間:10時から17時
入場料 :1,000円 *招待券持参者・事前登録者は無料
 招待券ご希望の方は、弊社までお問い合わせくださいませ
場 所 :?東京ビックサイト 東2ホール
ブースNo:G11

出展品目

  1. 非接触表面性状測定装置 PF-60
    インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機能を搭載
  2. 高NA非球面形状測定装置 NH-3SP/SE
    60°以上の傾斜面のサブ?m計測を可能にしたスティッチング計測技術
  3. 非接触輪郭形状測定機 MLP-2
    微細な工具、歯車や様々な部品の内外径の輪郭形状を非破壊にて測定

カテゴリー: 展示会のニュース

タグ: 産業機器