東京ビックサイト(東2ホール)にて行われる「第23回マイクロマシン展／MEMS展」にスキャンAF機能を搭載した非接触表面性状測定装置、レーザプローブを用いた非接触三次元測定装置等を出展致します。

開場期間：10時から17時
入場料　：1,000円　*招待券持参者・事前登録者は無料
　招待券ご希望の方は、弊社までお問い合わせくださいませ。
場　所　：東京ビックサイト　東2ホール
ブースNo：G11

出展品目：

1. 非接触表面性状測定装置　PF-60
   インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機能を搭載
2. 高NA非球面形状測定装置　NH-3SP/SE
   60°以上の傾斜面のサブμm計測を可能にしたスティッチング計測技術
3. 非接触輪郭形状測定機　MLP-2
   微細な工具、歯車や様々な部品の内外径の輪郭形状を非破壊にて測定