東京ビッグサイトにて行われる「JIMTOF 2016 第28回日本国際工作機械見本市に出展のご案内」にレーザプローブを用いた非接触輪郭形状測定機とスキャンAF機能を搭載した非接触表面性状測定装置を出展致します。

開場期間：9時から17時
入場料：当日3,000円／前売1,000円（税込）* 学生、招待券持参者：無料（登録が必要）

　　　　（招待券が必要な場合は弊社までお問い合わせください）
場　所：東京ビッグサイト

小間番号：W3047 （西3ホール）

出展品目：

超精密非接触全周三次元測定装置　MLP-3SP
微細な工具、精密歯車や様々な部品の内外径の輪郭形状を非破壊にて測定

非接触表面性状測定装置　PF-60
インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機能を搭載

非接触三次元測定の最高峰　NH-3SP

ウエハの反り測定、ICパターンの形状および寸法測定に最適