第21回 機械要素技術展 M-Tech に出展のご案内
2017
06.20
展示会
# 測定機器
東京ビックサイトにて行われる「第21 機械要素技術展 M-Tech」にスキャンAF機能を搭載した非接触表面性状測定装置、レーザプローブを用いた非接触三次元測定装置等を出展致します。
期 間:2017年6月21日(水)~6月23日(金)
開場期間:10時から18時 ( 23日 [金]は17時まで )
入 場 料:無料(事前申請が必要となります)
場 所:東京ビックサイト 東7ホール
小間番号:東7-2
出展品目:
インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機能を搭載
微細な工具、精密歯車や様々な部品の内外径の輪郭形状を非破壊にて測定
ウエハの反り測定、ICパターンの形状および寸法測定に最適